立溝、森が第20回XAFS討論会で発表しました

立溝（D1）と森（M1）が放射光X線を使った測定技術 ”X線吸収微細分光法（XAFS）” に関する会議であるXAFS討論会で発表してきました（立溝：口頭講演＋ポスター発表、森：口頭講演）。

＠姫路、じばさんビル